口腔正畸学：研究牙、合、颌、面畸形的方法(2)

X线头影测量主要是测量颅颌正、侧位定位X线照像所得的影像，对牙合、颌、颅面各解剖标志点描绘出一定的线、角进行测量分析，从而了解牙颌、颅面的软硬组织结构，使对颅面、牙颌的检查、诊断，由表面形态而深入到内部结构中去，是正畸临床诊断、治疗设计的一种重要手段。自本世纪40年代中50年代末至今已有几十种X线头影测量分析法，如Downs，Steiner，Tweed，Rickett，Wylie，Ridel，Bjork，Holdaway等，以及Di paolo于1983年提出的四边形分析法等，这些分析法首先用于研究正常牙合个体的颅面、颌骨、牙分结构的正常均值，作为对异常的错颌患者结构的比较分析，以便作出正确的诊断。1958年丹麦皇家牙科学院首先提出电子计算机X线头影测量方法，但直到70年代初才开始在美国广泛应用，将X线头影测量数值化，大大提高了测量效率及准确性。

我国于本世纪60年代初北京医科大学在毛變均教授的指导下率先将X线头影测量对北京地区正常合人的牙颌颅面结构进行了研究，并得出了北京人正常的测量标准值，作为诊断牙颌畸形的科学依据；80年代有成都、上海、哈尔滨、西安等地进行该方面的研究，对不同地区和种族的正常合人的颅、颌、面、牙合等结构求出其正常均值和标准差，同时微机X线头影测量也在上述各大口腔医学院等单位广泛应用于临床。

关于颅颌面部硬组织形态的X线头影测量分析，基本上是采用正、侧位X线头影片进行二维平面测量分析，侧位片只能显示颅颌面矢向的关系，正位片即头颅后前位只能揭示面部两侧的对称性、横径、中线以及切牙等关系，用正、侧位片分析颅颌面立体形态存在着局限性；虽然也有用三维CT对其进行立体形态测量分析但因辐射量大，价格昂贵而不能广泛推广应用。80年代末90年代初，四军大在陈华教授的指导下，用正、侧位定位X线片重建活体颅、颌骨立体形态方法，曾获第二届北京国际发明展览奖，用此方法对西安地区正常青少年首次重建出了光滑的颅颌骨三维框架结构形态、得出颅颌骨横向、垂直向、矢状向等投影距及空间距离，以及角度等项目的正常值，可应用于临床。

此外也有采用近景立体摄影测量、网格投影测量和激光全息测量等方法对颅颌面软组织形态进行测量。